電子元器件的二次篩選是指在元器件廠家初步篩選的基礎上，由使用方或其委托的第三方對電子元器件進行的進一步篩選。二次篩選旨在通過一系列有針對性的試驗，有效剔除早期失效的元器件。本文將介紹電子元器件的二次篩選原則以及常見的篩選項目。

電子元器件的二次篩選原則

1. 有效剔除早期失效產品：篩選的目的是排除早期失效的元器件，但不應導致正常產品的失效率增加。

2. 強應力篩選：為了提高篩選效率，可以施加強應力，但應避免引入新的失效模式。

3. 最佳應力順序：合理選擇能暴露失效的最佳應力順序。

4. 掌握失效模式：了解被篩選元器件的可能失效模式是篩選成功的關鍵。

5. 了解元器件特性：制定合理的篩選方案需要對元器件的特性、材料、封裝及制造技術有深入了解。

常見的電子元器件篩選項目

1. 高溫貯存

高溫貯存測試利用溫度升高加速化學反應的特性，加速元器件的失效過程，從而及時暴露有缺陷的元器件。此方法在半導體器件上廣泛應用，可以有效剔除表面污染、鍵合不良、氧化層缺陷等問題。通常在最高結溫下貯存24至168小時。高溫貯存不僅簡單易行且費用不高，適用于許多元器件。通過高溫貯存后，還能使元器件的參數性能更加穩定，減少使用中的參數漂移。

2. 功率電老煉

功率電老煉在熱電應力的共同作用下，可以很好地暴露元器件內外的多種潛在缺陷，是可靠性篩選的重要手段。功率老煉需要專門的試驗設備，費用較高，因此篩選時間不宜過長。民用產品通常為幾個小時，軍用高可靠產品為100至168小時，宇航級元器件可以選擇240小時甚至更長的周期。

3. 溫度循環

溫度循環測試利用極端高溫和低溫之間的熱脹冷縮應力，篩選出熱匹配性能差的元器件。電子產品在使用過程中會遇到不同的環境溫度條件，在熱脹冷縮的應力作用下，性能較差的元器件容易失效。溫度循環篩選能有效剔除具有熱性能缺陷的產品。

4. 離心加速度

離心加速度試驗又稱恒定應力加速度試驗。通過高速旋轉產生的離心力作用于元器件上，可以剔除鍵合強度弱、內引線匹配不良和裝架不良的元器件。這項篩選通常在半導體器件上進行。

5. 監控振動和沖擊

監控振動和沖擊試驗在對產品進行振動或沖擊測試的同時監測其電性能。這項試驗能模擬產品使用過程中的振動、沖擊環境，有效剔除存在機械結構不良、瞬時短路或斷路的元器件，以及整機中的虛焊等故障。此試驗在高可靠繼電器、接插件及軍用電子設備中非常重要。由于需要專門的試驗設備且費用昂貴，一般不用于民用電子產品。

通過上述篩選項目，可以有效提高電子元器件的可靠性和穩定性，確保電子產品在使用過程中能夠長期穩定運行。